“以德為本、以誠(chéng)為先、品質(zhì)至上、技術(shù)領(lǐng)先”
產(chǎn)品中心
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Tracera
傳統(tǒng)氣相色譜檢測(cè)器很難勝任氣體中痕量物質(zhì)分析的工作，島津公司全新開發(fā)的高靈敏度氣相色譜系統(tǒng)Tracera，融合了專為毛細(xì)管型氣相色譜儀GC-2010 Plus精心設(shè)計(jì)的BID檢測(cè)器（介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測(cè)器）技術(shù)，在此方面展示了強(qiáng)大的分析優(yōu)勢(shì)，完全能夠滿足痕量物質(zhì)分析的需求。
產(chǎn)品特點(diǎn)
比TCD的靈敏度高100倍以上，比FID的靈敏度高2倍以上
單一檢測(cè)器完全滿足復(fù)雜分析要求
介質(zhì)阻擋放電等離子體生成技術(shù)保證儀器長(zhǎng)期穩(wěn)定性
新型等離子體技術(shù)滿足痕量分析的要求
新型BID檢測(cè)器（介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測(cè)器）主要通過(guò)介質(zhì)阻擋放電產(chǎn)生的氦等離子體進(jìn)行電離（離子化），是一種靈敏度極高的通用型檢測(cè)器。在較低溫度下，通過(guò)在石英玻璃管上加高電壓，產(chǎn)生具有極高光子能量（17.7eV）的氦等離子體。
色譜柱流出的組分在氦等離子體的能量轟擊下離子化，收集極檢測(cè)離子信號(hào)，輸出色譜峰。
BID檢測(cè)器是島津公司與日本大阪大學(xué)工程學(xué)研究生院原子和分子技術(shù)中心Katsuhisa Kitano博士的合作研究成果，目前已獲得3項(xiàng)美國(guó)專利，4項(xiàng)專利待審批。
應(yīng)用對(duì)比
| 檢測(cè)器 | 適用化合物 |
| 介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測(cè)器(BID) | 全部有機(jī)和無(wú)機(jī)化合物 （He和Ne除外） |
| 熱導(dǎo)檢測(cè)器 (TCD) | 全部有機(jī)和無(wú)機(jī)化合物（載氣除外） |
| 氫火焰離子化檢測(cè)器 (FID) | 全部有機(jī)化合物 （甲醛和甲酸除外） |
